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规格介绍:
全新设计的X-50是市场上表现极佳的手持式XRF,使用经典的PiN二极管探测器技术。这款高性价比的XRF为检测器平台提供了一流的分析性能和速度,运行速度为其他品牌的2倍或更高。SciAps强大的小型化X射线管与高度先进的内部几何结构相结合,可进行快速、精确的测试。
重塑经典
X-50使用经典的“久经考验”PiN二极管技术及X射线技术为过渡金属和重金属提供极佳的基础分析。对于那些不需要测量Mg,Al,Si,S或P的用户,X-50是完美的选择。我们重新设计了这一经典的探测器技术,并为其配备了更多的功能:内置高分辨率摄像机用于查看样品,如焊缝;用于照片记录或2D/3D条形码读取和存储的微距相机。
标准元素包
X-50使用与其他SciAps X系列型号(最大工作电压为 40kV)相同先进的X射线管技术进行测试,包括:Ti,V,Cr,MnFe,Co,Ni,Cu,Zn,W,Ta,Hf,Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb,也可以根据要求添加更多的元素。
显示完整的样品化学成分
Android与数据管理
操作安装Android系统的X-50如同在使用一部智能手机。通过使用蓝牙,Wi-Fi和USB,用户可以打印,发送电子邮件并连接到几乎任何信息系统以获取实时数据。板载微距相机允许记录照片文档,蓝牙标签打印机提供即时硬拷贝标签。
可选用SciAps专用测试平台分析小块样品。 平台将防护罩与仪器内部连锁互动,极大地保护操作者的使用安全;超级稳定的平台基础设计,能保持样品测试过程中的样品位置正确。
规格说明:
重量 | 1.40kg(含电池) |
外形尺寸 | 238mm x 283mmx 84mm |
激发源 | 标配4 W,40kV 铑靶X射线光管,50 kV可选 |
探测器 | 7 mm2 PiN二极管探测器(有效区),在5.95 Mn K-alpha线处的FWHM为200eV分辨率。 |
应用领域 | 合金分析,贵金属,土壤,矿石,汽车三元催化等 |
X射线滤光片 | 单个滤光片用于合金分析; 多个滤光片用于贵金属,土壤,矿石,汽车三元催化 |
使用环境温度范围 | -12 ℃ - 55 ℃ |
分析范围 | 根据不同应用要求可测量24种元素,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,W,Ta, Hf,Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb. 也可根据用户要求添加其他元素。 |
运算单元和主处理器 | 112GHz四核ARM Cortex A53 64/32位,RAM:2GB LP-DDR3,存储:16 GB eMMC(存储) |
脉冲处理器 | 12 位数模转换,80MSPS采样率,8K 通道 MCA,USB2.0高速数据传输至主处理器;FPGA应用数字滤波用于高吞吐量脉冲处理(20 nS - 24 uS 峰值时间)。 |
电源 | 插拔式可充电锂电池,可在设备内部充电或使用外部充电器充电,交流电源。支持热插拔更换电池。 |
显示屏 | 3.5英寸(88.9 毫米)彩色电容式触摸屏 — 400 MHz QualcommAdreno 306 2D/3D 图形加速器 |
样品监测 | 内部摄像头,用于在分析前和分析期间查看样品,以便正确对准样品。 微距相机,用于扫描二维码或条形码以及照片文档和报告生成。 |
通讯/数据传输 | Wi-Fi、蓝牙、USB 可连接到大多数设备,包括 SciAps Profile BuilderPC 软件。 提供SciAps云数据管理选项。 |
校准方法 | FP基本参数法 |
校准检查 | 外部316不锈钢标准样品,用于校准验证和能量标度验证 |
安全 | 密码保护使用(用户级别)和内部设置(管理员) |
双摄像头模式 | 内部高分辨率相机用于样品查看、焊接等。微距相机用于照片文档、读取和存储 2D/3D 条形码和 QR 码。 |
规范 | CE,RoHS,USFDA认证, 符合加拿大RED Act. |
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